GXSC FRAM GX85RS2MC性能兼容MB85RS2MT的温度测试仪系统方案
发布日期:2024-03-30
点击次数:772
高温测试仪主要用于加热过程中的温度跟踪测量和数据采集,通过对测试数据进行系统分析,研究炉内的温度分布和温差变化规律。而在一些收集存储数据的系统,系统的电压可能变化不定或者突然断电,FRAM GX85RS2MC(兼容MB85RS2MT)就是针对这些系统可以用来直接替换SRAM而设计的。
GXSC GX85RS2MC(兼容MB85RS2MT)容量高达2M,能够进行无限次的读写操作,使用GX85RS2MC能够极大的节约电路板空间。使用GX85RS2MC存储器的温度测试仪,可以兼具大容量数据存储、抗冲击、抗干扰、数据断电不丢失、实时采集速度高的特点。

GX85RS2MC(兼容MB85RS2MT)具有超低功耗9微安(待机),工作电压2.7伏至3.6伏,可以在-40℃-85℃范围内工作,芯片的数据在85℃工作环境下可以保存10年,在25℃工作环境下可以保存200年,且具有防潮、防电击和抗震等特性,可以很好的满足高温测试环境要求;
GX85RS2MC性能参数如下:
•容量2M bit,提供SPI接口;
•工作频率是25兆赫兹;
•高速读特性:支持40MHz高速读命令;
•工作环境温度范围:-40℃至85℃;
•封装形式:8引脚SOP封装,符合RoHS;
•性能兼容富士通和赛普拉斯;